Volltext-Downloads (blau) und Frontdoor-Views (grau)
The search result changed since you submitted your search request. Documents might be displayed in a different sort order.
  • search hit 59 of 100
Back to Result List

In-Situ-Messsystem zur Ermittlung der Entwicklungsraten von Photolacken

Export metadata

Additional Services

Search Google Scholar
Metadaten
Author:Markus Mayer, Stefan Partel, Reinhard Schneider
Parent Title (German):5. Forschungsforum der österreichischen Fachhochschulen. 27.-28. April 2011, FH Campus Wien. Tagungsband
Publisher:FH Campus Wien
Place of publication:Wien
Document Type:Conference Proceeding
Language:German
Year of publication:2011
Creating Corporation:FH Campus Wien
Release Date:2018/11/22
First Page:256
Last Page:259
Organisationseinheit:Technik / Department of Engineering (Ende 2021 aufgelöst; Integration in die übergeordnete OE Technik)
Forschung / Forschungszentrum Mikrotechnik
Technik / Technik | Engineering & Technology
Publicationlist:Partel, Stefan
Schneider, Reinhard