In-Situ-Messsystem zur Ermittlung der Entwicklungsraten von Photolacken
Author: | Markus Mayer, Stefan Partel, Reinhard Schneider |
---|---|
Parent Title (German): | 5. Forschungsforum der österreichischen Fachhochschulen. 27.-28. April 2011, FH Campus Wien. Tagungsband |
Publisher: | FH Campus Wien |
Place of publication: | Wien |
Document Type: | Conference Proceeding |
Language: | German |
Year of publication: | 2011 |
Creating Corporation: | FH Campus Wien |
Release Date: | 2018/11/22 |
First Page: | 256 |
Last Page: | 259 |
Organisationseinheit: | Technik / Department of Engineering (Ende 2021 aufgelöst; Integration in die übergeordnete OE Technik) |
Forschung / Forschungszentrum Mikrotechnik | |
Technik / Technik | Engineering & Technology | |
Publicationlist: | Partel, Stefan |
Schneider, Reinhard |